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立式高溫試驗箱簡述:滿足各種產(chǎn)品、零部件及材料在高溫恒溫環(huán)境下貯存、運輸、使用時間適應(yīng)性試驗要求。采用定值和程序兩種控制。定值控制可進行自動開始結(jié)束設(shè)定,適合于生產(chǎn)線熱處理干燥處理。程序控制可進行10個模式,每個模式20步的程序設(shè)定。滿足有溫度上升、下降斜率設(shè)定的溫度特性試驗。
工業(yè)顯微鏡簡介: 1. 支持通過光學(xué)顯微鏡或圖像測量儀(如Nikon NEXIV),對直徑為6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的半導(dǎo)體晶圓的創(chuàng)新設(shè)計和材料進行檢測。 2. 半導(dǎo)體晶圓裝載機系列,能夠?qū)⒅睆綖?英寸(150mm)和8英寸(200mm)的晶圓轉(zhuǎn)移到厚度為100微米(工廠制造選項)的尼康Eclipse L200N和LV150N顯微鏡或NEXIV VMZ-S視頻測量儀器上。
超景深顯微鏡概述:本套系統(tǒng)主要用于材料表面形貌的觀察;平面或三維測量??刹捎?D觀測模式,對被測物形狀,粗糙度,表面積等進行測量,可以做高度,寬度,橫截面,角度,R值,表面積,體積,線粗糙度,面粗糙度等的測量分析。同時可以做材料斷口、金相的觀測,陶瓷,微流道,微加工,現(xiàn)代加工制造,MEMS研究,微納制造等。
高速高分辨顯微共焦拉曼光譜儀 系統(tǒng)功能: 快速獲得詳細的圖像和分析,非常適合于微觀和宏觀測量,提供*進的二維和三維共聚焦成像能力。LabRAM Odyssey™具有高性能和直觀的簡易性,廣泛用于標(biāo)準(zhǔn)拉曼分析、光致發(fā)光(PL)、 針尖增強拉曼光譜 (TERS) 和其他聯(lián)用分析方法。通過簡單的AFM 升級,從微米尺度轉(zhuǎn)向納米光學(xué)世界。
智能型多功能橢偏儀? (Smart SE) 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快,準(zhǔn)確。它可以表征幾埃到20µm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n, k)以及薄膜結(jié)構(gòu)特性(如粗糙度、光學(xué)梯度及各向異性等)。